Author(s):
1. Božica Bojović, 2. Ivana Stanković (Mileusnić), Mašinski fakultet Univerziteta u Beogradu,

Abstract:
U ovom radu izvršena su komparativna istraživanja površine materijala za kontaktna sočiva pomoću nanoprob mikroskopije atomskih i magnetnih sila. Nanoprob mikroskopija atomskih sila (AFM) daje informaciju o veličini struktura na naometarskom nivou, obliku snimljenih struktura (udubljenja), njihove raspoređenosti po površini, kao i o ukupnoj hrapavosti skenirane površine. Nanoprob mikroskopija maganetnih sila (MFM) daje informaciju o rasporedu magnetnih, paramagnetnih i dijamagnetnih struktura (atoma, molekula i klastera) na snimljenoj površini pomoću AFM, promeni gradijenta magnetnog polja na naometarskom nivou, energetskom magnetnom obliku snimljenih struktura (magnetnih vrhova i dolina) kao i njihove raspoređenosti po površini. Istraživanja su urađena za bazni materijal kontaktnih sočiva od polimetilmetakrilata (PMMA) i matrijal PMMA kada mu je u toku polimerizacije dodat nanomaterijal (molekuli C60 velićine 1 nm). Uočene su razlike kako u topografiji tako i u intenzitetu i gustini gradijenta magnetnogpolja. Dobijeni rezltati detaljno su analizirani.

Key words:
Kontaktna soćiva, PMMA, molekul S60, AFM, MFM

Thematic field:
Nanostrukturni materijali

Opening paper:
Yes

Date of abstract submission:
12.06.2011.

Number of visits:
941

Conference:
Contemporary Materials - 2011 - Savremeni materijali